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概述:
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,是理化試驗室的必備專用設(shè)備。
技術(shù)參數(shù):
投影屏: ¢200mm
放大倍數(shù): 50X
光源: 12V 100W(鹵鎢燈)
電源: 220V 50Hz 150W
外型尺寸: 515×224×603mm
重量: 約18Kg
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